Comet Yxlon GmbH

• Assortiment: CC serie
• Industrie: Auto, elektronica, ruimtevaart, wetenschap en onderzoek, halfgeleider
• Defectgrootte: <1µm, <50µm, <1mm, >1mm
• Componentgrootte: klein, middelgroot
• Werkmodus: 2D, 3D, 2D/3D

• Betrouwbare, snelle en herhaalbare inspecties - handmatig en automatisch
• Automatische void analyse met VoidInspect
• Gebruiksvriendelijke, dynamische beeldverbeteringsfilters, bijv. eHDR
• Beste laminografieresultaten met micro3Dslice en FF CT-software
• Dosisreductie en detectormodus met lage dosis voor gevoelige onderdelen
• Optionele hoge laadcapaciteit (< 20 kg)

Door de voortdurende miniaturisatie van elektronische componenten moeten steeds meer onderdelen in een steeds kleiner gebied passen. Voor de meest nauwkeurige en herhaalbare resultaten moet een testsysteem daarom niet alleen de hoogste prestaties en resolutie leveren, maar ook uitgerust zijn met dynamische beeldverbeteringsfilters.

De Cheetah EVO beschikt over:

Grote platte detectoren met tot 50% groter inspectiegebied voor een beter overzicht en snellere werkprocessen door minder stappen in automatische sequenties

Beste laminografie met micro3Dslice, met gedetailleerde 3D visualisatie voor snelle en eenvoudige analyse van defecten - voorr aanzienlijke kostenbesparingen in vergelijking met micro-slicing

Automatische void analyse met VoidInspect CL of DR, de op laminografie of radioscopie gebaseerde inspectieworkflows die een snelle, niet-destructieve evaluatie van void in de soldeerverbindingen van PCB-componenten mogelijk maken.

THTInspect DR, de halfautomatische defectanalyse voor vulniveau-inspecties van THT-gebaseerde componenten in 2D

Integratie in de productielijn: directe communicatie met inline AOI/AXI inspectiesystemen door het gebruik van ProLoop

Optionele hoge belastbaarheid (< 20 kg) met versterkte mechanica en monstertafel: meerdere componenten en elektronische aansluitingen in vaste behuizingen kunnen gelijktijdig worden geïnspecteerd om tijd te besparen.

Testen van halfgeleiders: maximale resolutie met minimale spanning

Elektronische componenten en halfgeleiders zijn de belangrijkste elementen van de meeste elektronische systemen. Vanwege hun compactheid en dichtheid vereist hun inspectie een maximale beeldresolutie bij een laag vermogen en een lage spanning. Lege assemblages, inclusief multi-area voiding, vereisen nauwkeurige, herhaalbare inspectieroutines. De Comet Yxlon

Cheetah EVO biedt:

Een hooggevoelige detector met optionele lage dosismodus

• Detectie van hoge details door een geïntegreerde beeldketen
• Geïntegreerde automatische defectdetectie met FGUI (bijv. leegtes in bulten)