ZEISS O-INSPECT duo biedt twee technologieën in één machine: grote werkstukken zoals printplaten, brandstofcellen of batterijen kunnen zowel metrologisch geïnspecteerd worden als in hoge resolutie zonder snijden. De combinatie van 3D-meettechnologie en microscopische inspectie verhoogt de efficiëntie en bespaart ruimte in kwaliteitslaboratoria.


ZEISS O-INSPECT duo is verkrijgbaar in maat 8/6/3

• 2-in-1: Microscoop en meetapparaat in één machine
• Snelle en nauwkeurige 3D metingen - optisch en tactiel
• Hoge-resolutie optiek met extra inspectiesoftware ZEISS ZEN core

het eerste multitechnologiesysteem van ZEISS Als meetmicroscoop bestrijkt ZEISS O-INSPECT duo twee essentiële toepassingsgebieden in de kwaliteitscontrole: Nauwkeurige meting en inspectie met hoge resolutie van grote of vele kleine componenten. Het apparaat is ook speciaal ontwikkeld voor toepassingen die een combinatie van driedimensionale meting en inspectie vereisen - inclusief segmentatie, stitching en beeldverwerking op het kleurenbeeld. In plaats van een meetapparaat en microscoop hebben kwaliteitslaboratoria nu nog maar één machine nodig, wat ruimte en systeemkosten bespaart. Ontdek welke andere voordelen het multifunctionele apparaat biedt voor de respectieve gebieden.




mESSTECHNIK Zeer nauwkeurige metingen - tactiel en optisch Hoge nauwkeurigheid voor vlakke en gevoelige werkstukken ZEISS O-INSPECT duo is een multi-sensor meetapparaat en maakt indruk met zijn optiek met hoge resolutie in combinatie met de ZEISS VAST XXT tactiele scansensor. De tactiele sensor maakt snelle en nauwkeurige 3D-metingen mogelijk door een groot aantal meetpunten vast te leggen in één enkele beweging.

gevoelige componenten kunnen contactloos worden gemeten met het ZEISS O-INSPECT duo - met uitstekende nauwkeurigheid en een aanzienlijke verkorting van de meettijd dankzij ZEISS VAST aftasten (ZVP).



Dankzij de hoge resolutie bij een zeer grote werkafstand is dit niet alleen mogelijk voor vlakke werkstukken of monsters. Oppervlakte-inspectie en meting op één machine Vandaag CMM, morgenmicroscoop Veel werkstukken vereisen oppervlakte-inspectie naast dimensionale, vorm- en positie-inspectie. Waar voorheen twee aparte apparaten werden gebruikt voor meten en inspecteren, biedt ZEISS O-INSPECT duo nu een 2-in-1 oplossing. Dankzij de intuïtieve bediening van het apparaat en de 5 MP Discovery.V12 scout 160 c kleurencamerasensor met hoge resolutie en 12x zoomlens, kunnen inspectietaken nu ook in kaart worden gebracht op het meetapparaat. Naast het gebruikelijke gebruik met ZEISS CALYPSO, kan het apparaat ook worden gebruikt voor microscopietaken met de ZEISS ZEN kernsoftware.