Comet Yxlon GmbH

• Serie: FF-serie
• Industrie: Automobielindustrie, elektronica, ruimtevaart, wetenschap en onderzoek, gieterijen, halfgeleiders, add. productie
• Defectgrootte: <1µm, <50µm, <1mm, >1mm
• Deelgrootte: klein formaat, middelgroot formaat, groot formaat
• Werkmodus: 3D, 2D/3D, metrologie

• Configuratie met enkele of dubbele buis voor maximale veelzijdigheid in microCT-toepassingen in het laboratorium
• Wisselen tussen 225 kV micro-focus en 190 kV nano-focus buizen in seconden met één druk op de knop
• Nauwkeurige resultaten dankzij granieten manipulatie en luchtconditionering
• Flexibele toepassing dankzij verschillende CT-trajecten en FoV-uitbreidingen via softwareplatform Geminy
• Optionele meetversie met een MPESD = 5,9 µm + L/75 [L in mm]
• Beschikbaar als FF35 CT SEMI versie in overeenstemming met de standaarden voor de halfgeleidermarkt

Flexibele inspectie van zeer kleine tot middelgrote onderdelen
De Comet Yxlon FF35 CT, FF35 CT Metrology en FF35 CT SEMI bestrijken een buitengewone reeks toepassingen. De mogelijkheden omvatten verbeterde materiaaltests in de R&D-afdeling, optimalisatie van procescontrole en inspectie van kleine series, evenals diverse wetenschappelijke toepassingen. De opstelling met dubbele röntgenbuizen stelt het CT-systeem met hoge resolutie in staat om de mogelijkheden voor kwaliteitsborging en onderzoek in de automobiel-, elektronica-, luchtvaart- en materiaalwetenschapsindustrie aanzienlijk uit te breiden.

• Elektronische componenten incl. SMD
• Producten met nieuwe materialen of nieuwe productiemethoden, bijv. additief vervaardigde componenten, vezelversterkte kunststoffen
• Batterijcellen en modules
• Spuitgegoten kunststoffen
• Microsystemen (MEMS, MOEMS)
• Medische objecten, bijv. canules
• Lichtmetalen gietstukken
• Geologische, paleontologische en biologische monsters

• Kwaliteitsborging, materiaalanalyse en onderzoek
• Fouten- en structuuranalyse
• Montagecontrole
• Inspectie van kleine serieproducties
• Procescontrole
• Digitalisering
• Segmentatie