ifm electronic GmbH
ifm electronic GmbH
27.10.2022 03:10
Objectdetectie en objectinspectie in één apparaat
Of het nu gaat om contourdetectie of BLOB-analyse, de Dualis 2D vision-sensor kan een breed scala aan defecttests en inspectietoepassingen in het hele productieproces realiseren. Met een hogere resolutie en vele verlichtingsfuncties zijn zelfs complexe toepassingen nu opmerkelijk eenvoudig op te lossen.
Wat zijn typische toepassingen?
De Dualis 2D vision-sensor combineert contour- en blobanalyse in één apparaat.
Het besteedt aandacht aan elk detail van zowel oppervlakken als contouren en kan zo een breed scala aan toepassingen voor het testen van defecten en inspecties in het hele fabricageproces oplossen.
Software en parametrisering
Eenvoudige parametrisering van vision-sensoren
De dualis wordt geparametriseerd en geprogrammeerd met de ifm Vision Assistant. De gebruiker wordt in deze intuïtieve software stap voor stap door het parametriseringsproces geleid. De kant-en-klare wizards maken het voor zowel beginners als deskundigen gemakkelijk om vision-toepassingen snel en betrouwbaar op te lossen en zeer eenvoudig te implementeren.
Met de zogenaamde logische laag kunnen beeldprogrammering en logische koppelingen worden uitgevoerd. Voor deskundigen in beeldbewerking is een geavanceerde modus met talrijke extra functies opgenomen.
Ervaar de kracht van een vision systeem met de eenvoud van een sensor.
Objectdetectie en -inspectie in één apparaat
Of het nu gaat om contourdetectie of BLOB-analyse, de O2D5-serie sensoren kan een groot aantal toepassingen voor het testen en inspecteren van defecten in de hele fabriek oplossen. Ontdek de functies met het interactieve model.
07.12.2022 00:00
Ceremoniële opening van de nieuwe ifm-vestiging in Istanbul24.11.2022 03:00
Meet de stroom zonder obstakels: De SU Puresonic ultrasone sensor14.12.2021 04:00
Drie ifm-producten winnen begeerde designprijs09.12.2021 01:00
ifm bouwt nieuw hoofdkantoor in Essenifm bouwt nieuwe hoofdzetel in Essen
De aanhoudende groei in de afgelopen jaren en de progno...