Door gebruik te maken van geavanceerde computerlaminografie en geïntegreerde AI-technologie, brengt Comet Yxlon 3D röntgenstraling met hoge resolutie naar de voorgrond voor gedetailleerd testen in de geavanceerde verpakking van geïntegreerde schakelingen. Voor het eerst beschikt de halfgeleidermarkt nu over een niet-destructieve aanvulling of alternatief voor conventionele destructieve methoden. Driedimensionale röntgenbeelden met een resolutie van minder dan 1 μm kunnen op betrouwbare wijze typische defecten identificeren in 3D IC-soldeerverbindingen, zoals ontbrekende en overbrugde bumps, holtes, niet-nat, head-in-pillow, bump shift en afwijkingen in standoff-hoogte of vervormingen. Moderne analysesoftware gebaseerd op deep learning neemt de automatische evaluatie over, inclusief het genereren van rapporten volgens de eisen van de gebruiker. Het nieuwe CA20 röntgeninspectiesysteem biedt de halfgeleiderindustrie daarom een geheel nieuw niveau van veiligheid en efficiëntie.

Halfgeleiders zijn een integraal onderdeel geworden van onze genetwerkte wereld. Dat stelt hoge eisen aan fabrikanten omdat innovatiecycli steeds korter worden terwijl de complexiteit van geïntegreerde schakelingen voortdurend toeneemt. Om concurrerend te blijven, is er een bijzondere focus op het verminderen van investeringskosten en het versnellen van ramp-up processen om sneller foutloze productie van nieuwe, high-performance componenten te bereiken. De vroegtijdige identificatie van kritieke defecten versnelt de ontwikkeling en optimalisatie van nieuwe productieprocessen aanzienlijk en daarmee het opstarten van de productie van nieuwe chipgeneraties.

Met het CA20 inspectiesysteem heeft Comet Yxlon 3D röntgentechnologie voor de Advanced Packaging industrie van halfgeleiders naar een geheel nieuw niveau getild. Het volledige herontwerp van de hardware, geoptimaliseerd voor halfgeleidertoepassingen wat betreft stabiliteit, beeldvorming, precisie en onderhoudsvereisten, Comet Yxlon GmbH Pagina 2 van 3 gecombineerd met hoge-resolutie computerlaminografie en softwarepakketten zoals Dose Manager, Batch Manager en 'Insights' voor geautomatiseerde evaluaties zorgen voor nauwkeurigheid, betrouwbaarheid en efficiëntie voor alle inspectietaken. Alle functies zijn eenvoudig en intuïtief toegankelijk via de Geminy gebruikersinterface die zichzelf heeft bewezen in de Comet Yxlon FF en UX productreeksen, uitgerust met grafische symbolen, wizards en verschillende presets voor elk vaardigheidsniveau.

"Als begeleidende inspectiemethode al in onderzoek en ontwikkeling van nieuwe microchips en hun productieprocessen, zal de nieuwe CA20 een revolutie teweegbrengen in de halfgeleiderindustrie," zegt Christian Driller, Vice President R&D bij Comet Yxlon. "CA20 zal ervoor zorgen dat ramp-up processen en time-to-market drastisch versneld worden, het huidige hoge uitvalpercentage zal afnemen en de opbrengst zal dus aanzienlijk toenemen. Het systeem brengt het zero-defect doel binnen bereik."

Gistermiddag lanceerde Comet Yxlon het systeem officieel met live demonstraties en genodigden. Tijdens verschillende presentaties op de conferentie hadden Stephan Haferl (CEO Comet), Dionys van de Ven (President Comet Yxlon), Isabella Drolz (Vice President Product Marketing Comet Yxlon) en Christian Driller al eerder gerefereerd aan die gedenkwaardige gebeurtenis. De nieuwe standpositionering in Hal B2, gedeeld door Productronica en Semicon Europa naast elkaar, geeft aan waar de reis van Comet Yxlon naartoe gaat: De kleinste fouten zijn de grootste uitdagingen in de wereld van vandaag, en Comet Yxlon maakt ze zichtbaar met zijn technologie in lijn met zijn belofte: See better. Sneller. Meer.