Dirk Steiner, Business Development Manager bij Yxlon, houdt zich sinds 2004 intensief bezig met industriële computertomografie en heeft meer dan 1.000 datasets gescand en geanalyseerd. Hier heeft u de mogelijkheid om de opname van het Today's Metrology Live webinar van GIE Media te bekijken en te horen hoe veeleisende metrologietaken op betrouwbare wijze worden opgelost met computertomografie. Yxlon was aanwezig samen met fabrikanten van andere metrologie gerelateerde technologieën om een uitgebreid overzicht van oplossingen te bieden.

Dirk sprak over de laatste trends in metrologie met behulp van industriële computertomografie (CT) en hoe data de sleutel is tot het verkrijgen van de informatie die fabrikanten nodig hebben om de efficiëntie te verhogen en de kosten te verlagen. Het allerbelangrijkste voor fabrikanten is de hoge kwaliteit van hun producten. Aan de "ronde tafel" bespraken vijf deelnemers hoe hun oplossingen producenten kunnen helpen dit te bereiken. Het meten en analyseren van interne structuren is echter alleen mogelijk met CT.

In antwoord op een van de gestelde vragen zei Dirk: "CT is een niet-tactiele methode, dus we veranderen de geometrie niet tijdens het proces. We kunnen de interne structuren zien, en met de grote trend naar additive manufacturing zijn er tegenwoordig geen grenzen meer aan wat je kunt ontwerpen en printen. Met CT kunnen we naar binnen kijken en dingen meten die onder de snede zitten of zelfs verborgen zijn in het onderdeel. Bovendien krijgen we ook gegevens van defecten, interne defecten, die op zich niets met metrologie te maken hebben. We slaan dus twee vliegen in één klap."